產品目錄 白光干涉儀 查看全部 >> 展開 相關文章 白光干涉儀的原理和主要構成部分介紹 里氏硬度計沖擊裝置-技術參數一覽-測試范圍表-示值誤差和示值重復性表 543-471B,543-491B三豐數顯千分表,高度計 HR-150DT型洛壓硬度計 一鍵閃拼測量儀在操作方面的注意內容 推薦產品 日本柯尼卡美能達色差儀 光柵尺 你的位置:首頁 > 產品展示 > 白光干涉儀 > 產品展示 白光干涉儀 產品用途: 結合光學顯微鏡與白光干涉儀功能的掃描式白光干涉顯微鏡,結合顯微物鏡與干涉儀、不需要復雜光調整程序,兼顧體積小、納米分辨率、易學易用等優點,可提供垂直掃描高度達400um的微三維測量,適合各種材料與微組件表面特征和微尺寸檢測。應用領域包含:玻璃鏡片、鍍膜表面、晶圓、光碟/影碟、精密微機電元件、平面液晶顯示器、高密度線路印刷電路板、IC封裝、材料分析與微表面研究等。 型號: 更新日期:2024-11-06 ¥面議 共 1 條記錄,當前 1 / 1 頁 首頁 上一頁 下一頁 末頁 跳轉到第頁